手机可靠性测试-结构耐久性测试条件
手机可靠性测试常规测试条件
结构耐久测试 （Mechanical Endurance Test）
u 测试周期：7 天。
u 测试目的：各结构件寿命测试。
1.按键测试（Keypad Test）
² 测试环境：室温（20~25° C）；4台手机；手机设置成关机状态。
² 测试方法：导航键及其他任意键进行10万次按压按键测试。
² 试验标准：手机按键弹性及功能正常。
2.侧键测试（Side Key Test）
² 测试环境：室温（20~25° C）；4台手机；手机设置成关机状态；5万次按压。
² 试验标准：手机按键弹性及功能正常。
3.翻盖测试（Flip Life Test）
² 测试环境：室温（20~25° C）；4台手机；手机设置成开机状态；10万次开合翻盖测试。
² 试验标准：6万次后，手机外观，结构，及功能正常。
4.滑盖测试（Slide Life Test）
² 测试环境：室温（20~25° C）；4台手机；手机设置成开机状态；8万次滑盖测试。
² 试验标准：6万次后，手机外观，结构，及功能正常,滑盖不能有松动。
5. 重复跌落测试（Micro-Drop Test）
² 测试环境：室温（20~25° C）；7cm高度 ,20mmPVC板；4台手机；开机状态；6000次。
² 测试标准：手机各项功能正常，外壳无变形、破裂、掉漆，显示屏无破碎，晃动无异响。
6. 充电器插拔测试（Charger Test）
² 测试环境：室温（20~25° C）；4台手机。
² 试验方法：将充电器接上电源，连接手机充电接口，等待手机至充电界面显示正常后，拔除充电插头。在开机不插卡状态下插拔充电3000次。
² 检验标准：I/O接口无损坏，焊盘无脱落，充电功能正常。无异常手感。
7.笔插拔测试（Stylus Test）
² 测试环境：室温（20~25° C）；4台手机；开机状态；2万次。
² 检验标准：手机笔输入功能正常，插入拔出结构功能、外壳及笔均正常。
8.触摸屏点击试验 (Point Activation Life Test)
² 试验条件：触摸屏测试仪，直径为0.8mm的塑料手写笔或随机附带的手写笔
² 试验方法：2台手机；将手机设置为开机状态，点击同一位置250,000次，点击力度为250g；点击速度：2次/秒；
² 检验标准：不应出现电性能不良现象；表面不应有损伤
9.触摸屏划线试验 (Lineation Life Test)
² 试验条件：触摸屏测试仪，直径为0.8mm的塑料手写笔或随机附带的手写笔
² 试验方法：2台手机；将手机设置为关机状态，在同一位置划线至少100,000次，力度为250g，滑行速度：60mm/秒
² 检验标准：不应出现电性能不良现象；表面不应有损伤
10.电池/电池盖拆装测试（Battery/Battery Cover Test）
² 测试环境：室温（20~25°C）；4台手机；将电池/电池盖反复拆装1000次。
² 检验标准：手机及电池卡扣功能正常无变形，电池触片、电池连接器应无下陷、变形及磨损的现象，外观无异常。
11. SIM Card 拆装测试（SIM Card Test）
² 测试环境：室温（20~25°C）；4台手机；SIM卡插上取下反复500次。
² 检验标准：SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常，手机读卡功能使用正常。
12. 耳机插拔测试（Headset Test）
² 测试环境：室温；4台手机；开机状态；耳机插入耳机插孔再拔出，3000次。
² 检验标准：实验后检查耳机插座无焊接故障，耳机插头无损伤，使用耳机通话接收与送话无杂音（通话过程中转动耳机插头），耳机插入手机耳机插孔时不会松动（可以承受得住手机本身的重量）。
13.导线连接强度试验（Cable Pulling Endurance Test）
² 测试环境：室温（20~25° C）；
² 实验方法：选取靠近耳塞的一段导线，将其两端固定在实验机上，用20N±2N的力度持续拉伸6秒，循环100次。
² 检验标准：导线功能正常，被覆外皮不破裂，变形。
14.导线折弯强度试验（Cable Bending Endurance Test）
² 测试环境：室温（20~25° C）；
² 实验方法：分别选取靠近耳塞和靠近插头的一段导线，将导线的两端固定在实验机上，做0mm~25mm折弯实验3000次。
² 检验标准：导线功能正常，被覆外皮不破裂，变形。
15.导线摆动疲劳试验（Cable Swing Endurance Test）
² 测试环境：室温（20~25° C）；
² 实验方法:分别将耳机和插头固定在实验机上，用1N的力， 以90°~120°的角度反复摆动耳机末端3000次。
² 检验标准：导线功能正常，被覆外皮不破裂。
