温升测试

为验证电子产品的使用寿命、稳定性等特性，通常会测试其重要元件（IC芯片等）的温升，将被测设备置于高于其额定工作温度（T=25℃）的某一特定温度（T=70℃）下运行，稳定后记录其元件高于环境温度的温升，验证此产品的设计是否合理。

1) 选取要测量的点, 并粘好热电偶，线圈的温度用电阻法测量；

2) 将待测产品按要求放置；

通电,调整输入至要求值